Electronic Design and Solution Fair 2004 ロゴ
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株式会社 半導体理工学研究センター
Semiconductor Technology Academic Research Center
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本社 〒222-0033
神奈川県横浜市港北区新横浜3-17-2 友泉新横浜ビル6F
6F Yusen Shin-Yokohama Bldg. 17-2, Shin-Yokohama 3-chome,
Kohoku-ku, Yokohama 222-0033, Japan
連絡先 管理部/Administration Department
TEL:(045)478-3300
FAX:(045)478-3310
E-mail:info@starc.or.jp
URL:http://www.starc.or.jp
出展物紹介 (1)SoC設計技術
1)90nm世代の設計メソドロジ(予測と予防技術、Check and Goの技術)
2)〜65nmプロセスに向けたばらつきやSI解析等の物理設計最適化技術
3)1000倍の高速化を可能とするCベース高速協調シミュレーション技術
4)消費電力を現状の1/200にするSoCシステム方式・回路技術
5)SoC品質を支えるSI対応テスト技術、不良診断化技術

(2)AS☆PLAプロジェクトによる90nm技術開発
1)90nm プロセス・ライブラリによるLSI試作サービス
2)標準ライブラリ、IP流通インフラの整備及びIPコアの検証。
3)90nmプロセスポータビリティの検証
4)業界標準化のためのIPハンドリング容易化技術

(3)大学共同研究テーマ5件およびSoC設計技術者教育の取り組み


 
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