Electronic Design and Solution Fair 2008
 
サガンテック・ノース・アメリカ・インク
Sagantec North America, Inc.
604
 
 
所在地 〒222-0033
横浜市港北区新横浜1-3-1
ダヴィンチ新横浜131 701号
701, Da Vinchi Shin-Yokohama 131,
1-3-1, Shin-Yokohama, Kohoku-ku, Yokohama
連絡先 冨田直人/日本支店
Naoto Tomita / Japan Office
TEL:045-479-7845
FAX:045-479-7844
E-mail:japan@sagantec.com
URL:http://www.sagantec.com
出展物紹介 世界初
Sagantecは、Layout設計のTAT短縮、また、Quality向上に大きく貢献できる主力製品を4つ紹介します。まず、多数のお客様から引き続き好評であるCompaction/Migration toolのSiClone、Optimization toolのSiFixを紹介します。また、Analog layoutのConstraintを簡単に設定できるAnaconda/Anaconda-Mもこの1年で更なる機能UPが盛り沢山ありましたことを紹介します。最新のDFM-Fixは、Sagantecの強みであるLayout fixing技術を使い、Hot spot修正に特化した新たなtoolとして紹介します。ご来店をお待ちしております。
出展者セミナー  
サガンテック・ノース・アメリカ・インク
1月24日(木)
世界初
DM1-24-6  15:30 〜 16:15
Accelerating advanced process deployment
Seminar presented with success stories from leading foundries

冨田 直人氏 (日本支店 支店長)
Sagantec will present how its layout migration and optimization technology addresses the key hurdles in the deployment of new process technology. Sagantec enables early process and design co-development, efficient layout reuse, fast migration of library, IP, memory and full chip. Sagantec addresses automatically complex design rules as well as optimization of DFM / recommended rules. This seminar will include flows and success stories for library, memories, IP and full-chip at advanced process node.
1月25日(金)
世界初
CM3-25-5  14:30 〜 15:15
A complete DFM solution: Detection, Analysis and Correction of litho hotspots
Seminar presented in collaboration with Mentor Graphics

岩崎 功氏 (日本支店 シニア・アプリケーション・エンジニア)
Sagantec will present a complete integrated flow using accurate calibrated models of Calibre-LFD to analyze design data and find litho hotspots, and Sagantec's DFM-Fix to analyze the hotspots and fix them. The correction and optimization respects design rules, multiple layer relationships and maintains hierarchy and symmetry. This seminar will include flows and success stories in memory designs and complete SoCs.

   
   



 
 




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