Electronic Design and Solution Fair 2008
 
日本イヴ(株)
Nihon Eve K.K.
501
 
 
所在地 〒222-0033
神奈川県横浜市港北区新横浜2-7-17 KAKiYAビル4F
2-7-17 Shinyokohama, KAKiYA Bldg.4F, Kouhoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa
連絡先 営業部
Sales Dept.
TEL:045-470-7811
FAX:045-473-7814
E-mail:js@eve-team.com
URL:http://www.eve-japan.co.jp
出展物紹介 仏EVE社が開発した「ZeBu(Zero Bug」は、従来型のハードウェアエミュレーションとラピッドプロトタイピングシステムの優れた点を単一の検証環境機能に統合し、SoCデバッグおよび組み込みソフトウェアの検証を行うことが可能である。またZeBuは従来のエミュレーションの大容量かつ洗練されたデバッグ環境としての利点と、ラピッドプロトタイピングの高速性およびコストパフォーマンスの利点を併せ持つ検証環境である。その上ブロックベースおよび大規模HWデザインの検証、組み込みシステムでのHW/SWの協調検証としても理想的な製品である。デザインサイクルのより早い時期からHW/SWの協調検証が可能となり、シリコンのリスピンなどのリスクを低減し、市場への投入時期を早める。EVEは小〜中規模のデザイン向けに最適なプラットフォーム「ZeBu-UF」と大規模デザイン向け検証プラットフォーム「ZeBu-XXL」の2つのシリーズをサポートしています。

出展者セミナー  
日本イヴ(株)
1月25日(金) DM4-25-3  12:30 〜 13:15
組込みアプリケーション用SW/HWのデバッグを組み合わせたマルチ・レベルのアプローチ
Lauro Rizzatti (EVE-USA, Inc. General Manager and VP of Marketing)
『Debbuging HW/SW in an SoC』:組み込みアプリケーションのソフトウエアデバッグとハードウエアデバッグを組み合わせたマルチレベルのアプローチをご紹介します。





プレスリリース ・ZeBu-XXLは2008 Design Vision Awardsの最終選考に選ばれる(2008/1/9)
   
   



 
 




日本エレクトロニクスショー協会
phone : 03-5402-7601 FAX:03-5402-7605
http://www.jesa.or.jp
ALL Rights Reserved by Japan Electronics Show Association
当サイトはIE5.0以上、 NN4.7以上で動作確認を行っております