座席数は前回の3倍に拡大!
EDSFairでしか聞けない内容が盛りだくさん。特に現場で活躍中の若手エンジニアは必見です。
※講演者のご好意により、一部特設ステージにて行なわれたセッションのスライドがダウンロードいただけますので、ご活用ください。
なお、これら資料は受講された方の理解を促進するために提供されるものであり、その著作権は講演者および主催者に帰属します。
目的以外のご使用と、複製は固くお断りします。
24日(木) EDAベンダーエグゼクティブが語る!
| 13:00〜14:30 |
セッション1「DFMの真実 - 今できること、これからやるべきこと」

【司会】小島 郁太郎 氏 [(株)日経BP社]

『全社一丸となって歩留まりやコストを最適化する』こんな狙いを定め、DFMへの取り組みを始めました。現在,DFMツールが設計現場に入り始めましたが、ゴールへの道のりには、まだまだ課題がありそうです。このステージでは、DFMの現状を認識し,目標達成への道筋を探ります。
- 南 文裕 氏 [東芝マイクロエレクトロニクス(株) 設計自動化技術開発部]

- Dr. Antun Domic [Synopsys, Inc., Sr. VP and GM, Implementation Group]

- Mr. Joe Sawicki [Mentor Graphics Corp., VP, Design-to-Silicon Division]

- Mr. John Lee [MAGMA DESIGN AUTOMATION, Inc., GM, Physical Verification Business Unit]

- Mr. Nitin Deo [Cadence Design Systems, Inc., Group Director, DFM Marketing]

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| 15:45〜17:15 |
セッション2「RTLからESLへのパラダイム・シフトは本当に起こるのか?
〜誰が,起こすのか? そして,それはいつ? 〜」

【司会】中山 俊一 氏 [CQ出版(株)]

システムレベル(ESL)設計支援技術が今後設計に不可欠な技術として普及していくのか。それはいつか。4大EDAベンダーのエグゼクティブと半導体メーカ,システム・ベンダの代表者が熱く意見を戦わせます。
- Mr. Eshel Haritan [CoWare, Inc., VP, Engineering]

- Mr. Joachim Kunkel [Synopsys, Inc., VP and GM, Solutions Group]

- Mr. Simon Bloch [Mentor Graphics Corp., GM, Design Creation and Synthesis Division]

- Mr. Steven Wang [Cadence Design Systems, Inc., VP & GM, Incubation (ESL)]

- 古山 透 氏 [東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター]

- 柿本 勝 氏 [ソニー(株) 半導体事業本部 設計基盤技術部門]

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25日(金) 今さら聞けないことがわかる!リターンズ
前回大好評だった『今さら聞けないことがわかる!』再登場です。EDSFairでしか聞けない内容が盛りだくさん。特に現場で活躍中の若手エンジニアは必見です。
| 10:30〜11:30 |
セッション3「今さら聞けないローパワー
〜 教えます。現場で使えるローパワー設計 〜」
【司会】井上 善雄 氏 [(株)ルネサステクノロジ 製品技術本部 設計技術統括部 DFM・ディジタルEDA技術開発部]
低消費電力化には回路を設計するときに何に気をつければいいの?
ソフト、アプリ、SoC、それぞれの設計の観点からそんなあなたの疑問に携帯電話を例にして答えます!
- 石原 亨 准教授 [九州大学システムLSI研究センター 設計技術研究部門]

- 武内 良祐 氏 [三菱電機(株) モバイルターミナル製作所 基盤技術部]
- 北原 健 氏 [東芝 セミコンダクター社 システムLSI設計技術部 設計メソドロジー技術開発担当]

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| 14:00〜15:00 |
セッション4「早わかりシステム設計
- 今さら聞けない5つのポイント」
【聞き手】牛島 真由美 氏 [(株)エッチ・ディー・ラボ テクニカルグループ]
【司会】柏木 治久 氏 [(株)半導体理工学研究センター 開発第2部高位設計開発室]
TLMによるシステム設計は、普及が進んでいますが課題は山積み!!システム設計を効率よく行うには? 再利用性を考慮した記述スタイルは? 等々。TLMでの設計で必須とされる5つのポイントを、「教育・ツール・標準化」にフォーカスして説明します。
- 近藤 洋 氏[(株)エッチ・ディー・ラボ テクニカルグループ]

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| 16:15〜17:15 |
セッション5「今さら聞けないDFT
- テストクライシスって本当? 今再び注目されるスキャン設計 -」
【聞き手】岩本 尚美 氏 [富士通(株) 電子デバイス事業本部教育部]
【司会】相京 隆 氏 [(株)半導体理工学研究センター 開発第2部テスト&故障解析開発室]
『1チップのテストコストが二千円、それでも不良品が見分けられない。』そんなテストクライシスが現実になろうとしています。DFTによる様々な取り組みがなされていますが、近年、枯れた技術と思われていたスキャン設計の重要性が浮かび上がってきました。本セッションでは、スキャン設計技術を軸にして、DFTの過去・現在・未来を分かりやすく説明します。
- 岩崎 一彦 教授 [首都大学東京 システムデザイン学部 情報通信システム工学コース]

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※さらに特設ステージでは、新興ベンダーエリア出展者から、
他では聞くことのできないプレゼンテーションが随時とりおこなわれます。
是非お立ち寄りください。
※プログラムに変更が生じる場合がありますので、あらかじめご了承ください。