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特設ステージ/特別企画

故障箇所の特定を容易にする技術

(株)アイヴィス
PR Intusoft社のTest Designerはボードレベルでのデジアナ混在信号や回路の故障モード影
響解析(FMEA)、テストプログラムの開発を行うためのツールです。Test Designer は、多
種多様なテスト機器向けに故障辞書とテストシーケンス情報を作成します。これらの機能は
Intusoft 社のUnparallel -SPICE テクノロジを基に構築されており、さらに故障解析、ス
トレス解析、製品受入テスト、故障診断にSPICE をベースとしたICAP/4 Windowsが
解析エンジンとして組み込まれています。本製品は信頼性や安全性の向上に有効なツールで
す。 
スケジュール ブースにて随時、デモを行います。 
株式会社アストロン【JEVeCビレッジ】
PR CADナビゲーションシステム。レイアウトデータと各種解析装置とのリンケージが可能です。 
スケジュール  
サイバネットシステム(株)
PR Soc実チップのデバッグ・検証・テストにおいて動作不良や故障が生じた場合、一般的にチップへのアクセスは外部ピンに限定されるため不良/故障の解析が困難になるという大きな問題があります。DAFCA社ClearBlueは、Soc実チップに組込むデバッグ/検証用HWとPC上の同目的のSWにより、ユーザ指定による任意のイベントでチップ内部信号を観測/制御することで、動作不良の根本原因や故障箇所の特定とその対策を容易化し、もって開発期間/工数の削減と量産の早期立上げを実現させるSoc包括的検証プラットフォームです。 
スケジュール 随時デモンストレーションを行っております。お気軽にお立ち寄り下さい。 
TOOL(株)【JEVeCビレッジ】
PR TOOL社のレイアウト表示プラットフォーム、LAVIS は、設計から検証、製造、検査にいたる全工程で活用できる視覚検証ツールです。設計データ上に画像データを貼り付け、重ね合わせて表示することができるため、先進プロセスでの故障解析において効果を発揮します。また、接続状態が気になる箇所については等電位追跡による接続状態表示機能を用いることで、一目で配線状況を確認することができます。さらに、3次元表示機能を合わせて活用することで、問題箇所に対する立体的な検証や断面構造の解析も行えるため、故障箇所の特定や原因の究明といった作業を円滑に行うことが可能となります。
ブースでは、豊富な資料と分かりやすいデモをご覧いただきながら詳しくご説明いたします。 
スケジュール 随時。
ご来場の際には、「コンシェルジュサービスを見た」とおっしゃっていただければよりスムーズにご案内させていただきます。 
日本シノプシス(株)
PR DFT CompilerとTetraMAXの新しい機能として、フィジカル情報を利用して故障診断の精度を向上させる新機能、消費電力を考慮したテストの新機能などをご提供しています。 
スケジュール ●スイート・デモ
1月22日(木)、23日(金) 13:30〜14:15
●ブースデモ
随時行っております。ブース内スタッフにお声掛けください。
 
メンター・グラフィックス・ジャパン(株)
PR YieldAssistは、TestKompressまたはFastScanによって生成したスキャン・テスト・パターンを用いた高性能・高スループットな故障診断ソリューションです。ゲートレベルのビューア(DFTVisulalizer)はもちろん、レイアウト・ビューア(Calibre RVE)とのダイレクト・リンクを提供し、不良箇所を視覚的に確認できます。YieldAssistサーバモード機能により、Volume診断を実現します。故障診断結果を統計処理することにより、ランダム不良・システマティック不良を、チップ開封前に推定することが可能となります。 
スケジュール ◆メンター・グラフィックスブース内シアター・プレゼンテーション
- IC Nanometer Design
1月22日(木)11:00〜11:15, 13:05〜13:20, 15:20〜15:35
1月23日(金)10:35〜10:50, 12:40〜12:55, 14:55〜15:10, 17:25〜17:40
◆出展者セミナー
1月23日(金)15:30〜16:15 DM6(中2階)
チップ品質向上・歩留まり改善に貢献!メンター・グラフィックスのDFTソリューション 
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