Electronic Design and Solution Fair 2009
 
TOOL(株)【JEVeCビレッジ】
TOOL CORPORATION [JEVeC Village]
409
 
 
所在地 〒153-0051
東京都目黒区上目黒 3-3-14
3-3-14, Kamimeguro, Meguro-ku, Tokyo
連絡先 営業部
Sales Department
TEL:(03)5723-8144
FAX:(03)3715-3628
E-mail:sales@tool.co.jp
URL:http://www.tool.co.jp/
出展物紹介 ■ LAVIS - レイアウト表示プラットフォーム
LAVISは、設計から検証、製造、検査にいたる全工程で活用できる視覚検証ツールです。各種装置や他社製EDAツールとの連係も豊富なことから、お手持ちの環境を活用した統合環境下での作業が可能です。EDSFair2009では、等電位追跡機能を用いた抵抗値計算やダブルビアのチェック、GDSに加えてOASISの簡易編集もできる最新機能群をご紹介いたします。
■ MaskStudio/MS-lite - フラクチャリングシステム
MaskStudioは、設計データをマスク描画装置フォーマットに変換する、高性能と多機能を両立した大規模対応のフラクチャリングシステムです。またMS-lite は、「マスクデータ生成をより手軽に、さらに身近なものに」をコンセプトとした中小規模データ向けフラクチャリングシステムで、お客様の用途やコストに見合った運用が可能です。
■ OASIS-Utility - OASISデータハンドリングツール
OASISフォーマットへのデータ移行には、フォーマットチェックやセルの階層展開、編集をはじめとした各種作業において煩雑な問題が発生し、膨大な作業時間を要します。これらのボトルネックをOASIS-Utilityが全て解決いたします。


<> LAVIS - Layout Visualization Platform
LAVIS is a visual verification tool that can be used in design, verification, manufacturing and test processes. Integration with other EDA tools and equipment provides a uniformed platform of more efficiency for the existing flow. Powerful new features to be showcased are the resistance calculation and double-via checking incorporated into Node Trace, and OASIS data editing achieved by Simple Edit.
<> MaskStudio/MS-lite - Fracturing System
MaskStudio is high-performance and multifunctional fracturing system to convert large design data into various mask writer formats. MS-lite on the other hand targets small and medium-sized design data and be tailored to your needs as appropriate.
<> OASIS-Utility - OASIS Data Handling Tool
Migrating to OASIS format requires data conversion, format checking, hierarchy expansion and editing, which would be time consuming and complicated tasks without our high-performance OASIS-Utility.
出展者セミナー  
TOOL(株)【JEVeCビレッジ】
1月22日(木) 時間:14:30 〜 15:15   会場:DM4
LAVISファンになろう !
設計の全工程で使える視覚検証ツールを体感する

長谷部寛昭
営業部 マーケティンググループ ディレクター
LAVISはビューアとしての基本機能以外にも多数の機能を兼ね備えています。デザイン解析で有用な等電位追跡機能を用いることで、設計の早期段階で様々な視覚検証を行うことができます。また、断面図表示機能や3次元表示機能は、微細化するプロセスに対し、その効果を発揮します。さらに、他社ツールとの豊富な連係は、デザイン検証や製造、検査のあらゆる工程において視覚検証を可能にします。この機会にLAVISの多彩な用途を知っていただき、今後の作業にお役立ください。
1月23日(金) 時間:15:30 〜 16:15   会場:DM5
LAVIS名人になろう !
単なる視覚検証に留まらない最新機能を極める

長谷部寛昭
営業部 マーケティンググループ ディレクター
LAVISはもはやビューアではありません。特に等電位追跡機能では、トレースされたノードに対する様々なチェックが可能です。最新版では、抵抗値計算やダブルビアのチェックも加わり、設計の早期段階における「チェッカー」としての利便性が大幅に高まりました。また、他社ツールとの連係では、検証結果や密度計算結果の表示などの強化を図ることで「デバッカー」としての価値も高まりました。ますます進化するLAVISをさらに深く知っていただき、今後の作業にお役立てください。

プレスリリース ・TOOL社、レイアウト表示プラットフォーム LAVISの最新版を発表(2009/1/13)
・「OASIS-Utility」の最新版を富士通マイクロエレクトロニクスが採用(2009/1/5)
   
   



 
 




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