• EDSFair2011 2011年1月27日(木)、28日(金)開催予定!	EDSFair2010にご参加いただき、誠にありがとうございました。
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 出展者詳細 九州工業大学 中村研究室
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九州工業大学 中村研究室
Kyushu Institute of Technology Nakamura Laboratory

出展物紹介

微細CMOSデバイスで顕著となってきたHCI(Hot Carrier Injection)やNBTI(Negative Bias Temperature Instability)等による素子の劣化現象を回路シミュレータSPICEに取り込みました。本シミュレータの概要及び、その応用により経年劣化に弱い回路の発見事例、また、その改善対策等の検討例を紹介します。


We have developed a new circuit simulator which includes the aging degradation effects of device characteristics, such as HCI(Hot Carrier Injection) and NBTI(Negative Bias Temperature Instability). We also demonstrate some examles to discover the weak point in circuit, and to improve the robustness in the performance.


連絡先

九州工業大学マイクロ化総合技術センター
Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology
TEL:0948-29-7584   FAX:0948-29-7586
E-mail:nakamura@cms.kyutech.ac.jp
URL:http://www.cms.kyutech.ac.jp/plan02/index.html

所在地

〒820-8502
福岡県飯塚市川津680-4
680-4, Kawazu, Iizuka, Fukuoka, JAPAN 8208502

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