出展者詳細 プロプラスデザインソリューション(株)
F-07 

プロプラスデザインソリューション(株)
ProPlus Design Solutions KK
新製品

出展物紹介

ProPlus Design Solutions社は、創業以来培ってきたSpiceモデリング技術を基礎として、この度、新たにParallel Statistical Spiceエンジンを開発しました。
このSpice高速化技術をバックボーンとして、今後、より微細化するデバイス開発、先端回路設計に要求される、パフォーマンスの改善およびYieldの最適化を実現すべく、革新的なEDAソリューションをお届けします。

モデリング/モデル評価ツール
■ BSIMProPlus: SPICEパラメータ抽出
■ Model Explorer: SPICEモデルQA
■ NoisePro 9812B: 1/f Noise, RTS測定およびパラメータ抽出

新製品
■ NanoDesigner: モデリング/Yield 解析統合環境
- NanoSpice: 高速・高精度パラレルSPICEシミュレーター
- NanoYield: NanoSpiceをエンジンとした、歩留り解析・改善支援ツール
         SPICE精度を維持した、高速Monte Carlo解析
         High Sigmaテクノロジーに対応





ProPlus Design Solutions, Inc.
Providing advanced modeling solution and Improving the efficiency of realistic DFY solution!!

We develops cutting-edge technologies to enhance the linkage between design and manufacturing, and delivers innovative EDA solutions for DFY.

It is based on the Device Modeling Platform, BSIMProPlus, that has been the choice for leading semiconductor companies since mid-90s, and the Circuit Design and Electrical Verification Platforms, ProDesigner, targeted to meet the challenges of performance and yield trade-offs for advanced circuit designs.




出展者セミナー

2011年
11月16日(水)
時間:13:00 〜 13:45   会場:DM6
HiSIM_HVなど高耐圧モデルパラメータ抽出ツールに求められる技術
〜ナノデバイス時代に向けた高精度モデル抽出技術の重要性について

横山 昇峰輝
営業技術部 シニア テクニカル コンサルタント
本セッションでは、ProPlusの最新モデリング・ソリューションについて、
高耐圧モデルの使用を前提に、セルフヒーティングや、マクロモデルの使用など、設計者が把握しておくべき着眼点を、製品デモを交えご紹介します。

次々に製品化される、ナノメーターテクノロジー世代では、製品仕様に対する、設計マージンが更に厳しくなります。このため、シミュレーションの鍵となる、SPICEパラメーターの抽出においても、より厳密な精度が求められます。

従来、抽出技術はパラメーターの合わせ込みに関して、主にエキスパートの経験に頼ってきましたが、ナノテクノロジーでは、パラメーターの高精度化に伴い、抽出の精度をさらに向上させるための時間・回数・リスク回避、すなわち、温度/ノイズ/過渡応答/IV/CV/RF/L,Wなど、各種依存の連立条件下で、精度の最終決定を行う必要性が不可欠なものとなります。

■BSIMProPlus: SPICE modeling and parameter extraction suite
- 次世代モデル対応、高精度/自動抽出(HSIM_HV, BSIM-CMG、BSIM6...)
- ナノメーターテクノロジー世代に向けた、ストレスモデリングフロー
- High Sigmaに対応した統計的モデリングフロー
- デバイスの挙動をより忠実に再現可能な、次世代型マクロモデリングフロー




2011年
11月17日(木)
新製品
時間:11:00 〜 11:45   会場:E205
ナノメーターテクノロジー世代に向けたDFY (Design for Yield) への挑戦
〜Meeting the challenges of DFY for Nanometer Design

Bruce McGaughy
ProPlus Design Solutions, Inc. CTO, Senior VP Engineering and R&D
ProPlusでは、創業以来培ってきた、先端モデリング技術およびシミュレーション技術をさらに発展させ、今後のナノメーターテクノロジー世代の設計に向け、歩留り改善の実現を念頭においた、新たな製品ラインナップを投入します。

本セッションでは、ナノデバイス設計における様々な問題や、その克服方法を提唱すると共に、今後のProPlusの取り組みについてご紹介します。

- 歩留りとパフォーマンスのトレードオフが抱える課題
- 歩留り改善に向けた、先端統計的モデリング手法およびコーナーモデルに
 求められるパフォーマンス
- マルチコーナーモデルを使用したHigh Sigma歩留まり解析、および大規模
 回路にも適用可能な、新開発、高速/高精度SPICEエンジンよるMonte Carlo
 シミュレーションの実現

(新製品)
ProDesigner: DFY design platform for different applications
- NanoSpice: Parallel SPICE simulator
- NanoYield: Yield analysis tool


■The yield / performance tradeoff
Local random variations and their dominant effect on power and
performance require a statistical design and simulation methodology.

■Advanced statistical modeling and performance corners for DFY
High performance designs require application specific corner models.

■High sigma and advanced Monte Carlo statistical simulation
To maintain design team productivity with a statistical design flow,
fast statistical simulation technologies are needed.
In addition, memory designs including SRAM and DRAM require validation of performance with 6 sigma yield targets.
Traditional Monte-Carlo methods are prohibitively expensive,
so advanced Monte-Carlo methods such as Mixed Importance Sampling are required.









連絡先

営業技術部

TEL:03-5942-5260   FAX:03-6676-1198
E-mail:support_japan@proplussolution.com
URL:http://www.proplussolution.com/

所在地

〒104-0043
東京都中央区湊3-8-1 リエトコートアルクスタワー2205
Lietocourt Arx tower 2205,
3-8-1 Minato Chuo-Ku, Tokyo 104-0043, Japan

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